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電子電工儀器
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美國PIE 334毫安回路校準儀,替代原美國Altek 334特點:
讀數的±0.025%
讀取并源0.000至50.000毫安
顯示電流或-25.00至125.00%的4-20毫安或10-50毫安
條形圖顯示4-20毫安或10-50毫安的百分比
讀取0.00至60.00伏,具有2倍超量程能力
模擬二線制發(fā)射機
讀取0.00至±30.00 VDC,具有4X超程能力
電源0.000至24.000 VDC,大輸出20毫安
直接校準1.000V至5.000V
回路符合性電壓>43伏
圖表記錄器和數據記錄器的可選模擬輸出
與核電站合作設計的具有高精度和可重復性的自動步進或斜坡
可選擇步長、步間時間和浸泡時間
EZ止回開關等秒表
全五位數顯示
美國PIE 334毫安回路校準儀測試參數:
一般規(guī)格
工作溫度
-20 to 60 °C
儲存溫度
-30 to 60 °C
相對濕度范圍
10 % ≤RH ≤90 %, 無冷凝
尺寸
143 x 76 x 41mm
重量
0.34kg
電池
4XAA電池
可選交流適配器
120 VAC 50/60 Hz [Part # 020-0100]
240 VAC 50/60 Hz [Part # 020-0101]
低電量指示
低電量指示(正常工作剩余1小時)
過載保護
過電壓保護至135 vrms(額定值為30秒)或240 vrms(額定15秒)
顯示
高對比度圖形液晶顯示器
0.315英寸(8.0毫米)數字大小
mA讀數
范圍
0.00 to 52.00 mA
精度
小于24.010 mA
大于 24.010 mA
≤ ± (0.05 % of 24.00mA) (±0.01 mA)
≤ ± (0.05 % of 52.00mA) (±0.03 mA)
電壓負荷
≤ 2V at 50 mA
過載/限流保護
54毫安
電池壽命
≥ 125 小時
校準源/功率-測量雙線發(fā)射器
量程
0.00 to 24.00 mA
EZ-Checks 模式4 & 20 mA
0.000 to 24.000 mA
≤ ± 0.025% (±0.005mA)
≤ ± (0.05 % of 24 mA Span) (±0.012mA)
溫度效應
≤ ± 0.005 %/°C滿量程
回路順應電壓
≥ 24 DCV @ 20.00mA
環(huán)路驅動能力
15小時(1200 Ω at 20 mA)
大于等于30小時@12 mA
電壓讀數
-99.99 to +99.99 VDC Full Span (FS)
≤ ± 0.05 % of FS
溫度影響
≤ ± 100 ppm/°C of FS
輸入電阻
≥ 2 MΩ
125小時
電話
在線交流
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